2015年6月3日(水)～5日（金）、東京ビッグサイトにて開催されます「JPCA Show 2015」に出展致します。本年のJPCA Showでは、半導体パッケージ向け検査装置「GATS-6310」や、フレキシブル基板向け通電検査装置「NRFEIS-3045A」の実機展示をはじめ、光学系検査技術や車載部品向け検査装置など、多岐に渡る検査ソリューションをご提案いたします。 性能がさらに向上したテスターや、高精度治具の製品展示も行いますので、万障お繰り合わせの上、ご来場ください。
【主な展示内容】
・半導体パッケージ検査装置「GATS-6310」
・プリント基板向け検査装置 「STARREC M6ⅡW/SW」
・高速/高精度テスター 「R-6510is」
・光学式外観検査装置 「RSH-S230T」、「RWi-300」
・高精度検査治具 同軸MEMSプローブ、15 umプローブ治具、ユニバーサル治具
・フレキシブル基板向け検査装置 「NRFEIS-3045A」
・車載向けデータロガー 「Trend Coder」 他
是非、弊社のブースにお立ち寄り下さい。
会場 ： 東京ビッグサイト 東5ホール
会期 ： 2015年6月3日(水)～5日(金)
展示ブース ： 5C-04
公式ＨＰ ：http://www.jpcashow.com/show2015/index.html
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JPCA Show 2015 出展のお知らせ（日本電産リード）
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